机译:具有110nm CMOS的两步决策DAC开关的24μW12位1-MS / s SAR ADC
机译:测试音频ADC和DAC
机译:通过DAC输出失调和缩放进行ADC / DAC回送线性测试
机译:两步DDEM ADC,用于准确且经济高效的DAC测试
机译:适用于片上实施和ADC内置自检解决方案的技术,可实现低成本和准确的ADC测试
机译:低分辨率扫描可以为3D形状分析的高分辨率扫描提供足够准确经济高效的时间选择
机译:确定性动态元件匹配DaC的参数优化,用于精确且经济高效的aDC测试